介電常數(shù)的影響

  低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測介質(zhì)，優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號弱，信號衰減嚴(yán)重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強(qiáng)的電磁波信號，并采用功能強(qiáng)的微處理器進(jìn)行復(fù)雜的信號處理。

  導(dǎo)波雷達(dá)和常規(guī)雷達(dá)一樣，采用傳輸時(shí)間來測量介質(zhì)物位，信號自烴類[介電常數(shù)2~3]液體表面或自水[介電常數(shù)80]面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號幅度[強(qiáng)度]的差別。

  普通雷達(dá)須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識(shí)返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導(dǎo)波雷達(dá)僅需測量電磁波的傳輸時(shí)間即可，無需信號的處理和辨別。

固體物料測量

  對于粉狀物料，可以選擇纜式導(dǎo)波雷達(dá)。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用纜式導(dǎo)波雷達(dá)，測量效果良好。對于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達(dá)物位計(jì)。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因?yàn)槲⒉ǖ念l率越高，微波的波長越短，保證發(fā)射出去的雷達(dá)波能夠在粗糙的固體表面最大程度地被反射回雷達(dá)探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。

液體、物位的測量

  對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達(dá)物位計(jì)。對于液面波動(dòng)大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。因?yàn)閷?dǎo)波管對液面有整型作用，且導(dǎo)波雷達(dá)的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。

  被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強(qiáng)的情況，不能選擇導(dǎo)波管方式測量，因?yàn)檎掣胶徒Y(jié)晶會(huì)堵死導(dǎo)波管，從而形成虛假物位，這樣就可以選擇導(dǎo)波桿方式來測量。

  當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時(shí)，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測量誤差，當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個(gè)波導(dǎo)體之間時(shí)，就會(huì)在該點(diǎn)測得虛假物位。

  近年來，中國經(jīng)濟(jì)迅速發(fā)展，石油、化工、醫(yī)藥、食品等過程工業(yè)領(lǐng)域?qū)走_(dá)物位計(jì)的需求也將越來越大。西森AD110系列高頻雷達(dá)物位計(jì)——具有完全自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)雷達(dá)物位計(jì)的面世，為國內(nèi)外用戶提供了更大的選擇空間，也為企業(yè)優(yōu)化成本、合理配置資源提供了更大的方便。